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测定多孔射气介质中氡扩散系数和可运移氡产生率的方法

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成果类型:
专利
发明/设计人:
叶勇军;吴文浩;李实;丁德馨;谢超;...
申请/专利权人:
南华大学
专利类型:
发明专利
语种:
中文
申请时间:
2018-05-21
申请/专利号:
CN201810487727.5
公开时间:
2018-12-04
公开号:
CN108931465A
主申请人地址:
421001 湖南省衡阳市常胜西路28号
申请地区:
湖南
机构署名:
本校为第一完成单位
主权项:
1.一种测定多孔射气介质中氡扩散系数的方法,其特征在于,该方法使用以下装置进行测量:该装置包括测试体、第一集氡空间、第二集氡空间、第一测氡系统和第二测氡系统;所述测试体为直柱体,测试体的底面为四分之一圆环,测试体的侧面由两个相对的平面和两个相对的弧面组成,其中靠近圆心的弧面为内弧面,远离圆心的弧面为外弧面;在内弧面的内侧设有第一集氡空间,第一集氡空间用于收集从内弧面析出的氡;在外弧面的外侧设有第二集氡空间,第二集氡空间用于收集从外弧面析出的氡;第一测氡系统与第一集氡空间连通并形成闭合回路,第二测氡系统与第二集氡空间连通并形成闭合回路;该方法根据以下公式计算多孔射气介质中氡扩散系数D:<img file="FDA0001667192900000011.TIF" wi="700" he="275"/>其中:<img file="FDA0001667192900000012.TIF" wi="700" he="362"/><img file="FDA0001667192900000013.TIF" wi="700" he="211"/>I0、I1分别表示第一类0阶、1阶虚宗量Bessel函数;K0、K1分别表示第二类0阶、1阶虚宗量Bessel函数;r1表示圆环中内圆弧的半径;r2表示圆环中外圆弧的半径;J1、J2分别表示内弧面、外弧面的氡析出率;用第一测氡系统在两个时刻分别测试第一集氡空间的氡浓度C<sub>11</sub>和C<sub>12</sub>,根据以下公式计算内弧面的氡析出率J<sub>1</sub>,<img file="FDA0001667192900000021.TIF" wi="573" he="211"/>t<sub>1</sub>表示测试第一集氡空间的两个时刻的时间间隔,S<sub>1</sub>表示测试体内弧面的表面积,V<sub>1</sub>表示第一集氡空间所在闭合回路的总体积;用第二测氡系统在两个时刻分别测试第二集氡空间的氡浓度C<sub>21</sub>和C<sub>22</sub>,根据以下公式计算氡析出率J<sub>2</sub>,<img file="FDA0001667192900000022.TIF" wi="605" he="235"/>t<sub>2</sub>表示测试第二集氡空间的两个时刻的时间间隔,S<sub>2</sub>表示测试体外弧面的表面积;V<sub>2</sub>表示第二集氡空间所在闭合回路的总体积。
摘要:
本发明公开了一种测定多孔射气介质中氡扩散系数和可运移氡产生率的方法,该方法使用以下装置进行测量:该装置包括测试体、第一集氡空间、第二集氡空间、第一测氡系统和第二测氡系统;在内弧面的内侧设有第一集氡空间,在外弧面的外侧设有第二集氡空间,第一测氡系统与第一集氡空间连通并形成闭合回路,第二测氡系统与第二集氡空间连通并形成闭合回路。本发明提供一种在不需要测量镭含量、密度和孔隙率等物理参数的条件下,确定多孔射气介质氡扩散系数和可运移氡产生率的方法,这样就可以大大减少工作量,而且设备简单,非常便捷。

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