HL-2A芯部等离子体ITG模和TE模增长率研究

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成果类型：

期刊论文

作者：

王亮;李新霞;龚学余

通讯作者：

Li, Xin-Xia

作者机构：

[王亮; 李新霞; 龚学余] School of Nuclear Science and Technology, University of South China, Hengyang, China

[李新霞] Institute of Plasma Physics, Chinese Academy of Sciences, Hefei, China

通讯机构：

School of Nuclear Science and Technology, University of South China, Hengyang, China

语种：

中文

关键词：

等离子体;增长率;离子温度梯度模;俘获电子模

关键词(英文)：

plasma;grow th rate;ion temperature gradient mode;trapped electron mode

期刊：

原子能科学技术

ISSN：

1000-6931

年：

2015

卷：

期：

页码：

961-965

DOI：

10.7538/yzk.2015.49.06.0961

基金类别：

11347002:国家自然科学基金 11375085:国家自然科学基金 12B107:湖南省教育厅优秀青年项目

机构署名：

本校为第一且通讯机构

院系归属：

核科学技术学院

摘要：

本文基于双流体模型，通过理论分析获得了芯部离子温度梯度（ITG）模和俘获电子（TE）模的色散关系。在Weiland模型的基础上，考虑了离子平行方向速度和 TE的影响，计算了碰撞对ITG模和 TE模增长率的影响。对 HL‐2A等离子体的计算结果表明，芯部等离子体的ITG模和TE模增长率与扰动波数密切相关，磁剪切对IT G模有明显的抑制作用。

摘要(英文)：

Based on the two-fluid model, the dispersion relation of ion temperature gradient (ITG) mode and trapped electron (TE) mode was analyzed theoretically. Based on Weiland model, the effect of collision on the growth rate of ITG mode and TE mode was studied with the consideration of ion parallel velocity and TE. The calculation result based on HL-2A shows that the growth rate of ITG and TE modes in core plasma is closely related to perturbed wave number. Moreover, the growth rate of ITG mode is proved to decrease in the presence of ...

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