针对视觉检测过程中光器件金线表面出现的高光现象，提出一种光器件金线图像高光区域的检测与去除方法。首先，根据采集的金线图像进行特征分析，利用OTSU算法分割高光区域；其次，调用MATLAB中的bwareaopen（）函数删除小面积对象，即高光闭合区域，并通过图像的差值运算提取高光区域图像；最后，采用八邻域像素平均值的方法更新高光区域像素值，该方法既可以去除高光区域，又可以保证此区域像素值在图像中的均衡分布。通过仿真实验结果分析，验证了金线图像高光区域检测与去除方法的有效性和可行性，同时为后续金线的质量检测提供有力保障。
