期刊论文

Research on the X-ray Spot Tracing and the Position Resolution of THGEM Detector

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原子核物理评论

1007-4627

2018

35

1

61-65

10.11804/NuclPhysRev.35.01.061

国家重点研发计划项目（2017YFA0403702） 国家自然科学基金资助项目（11635012,11775243） 广东省引进创新创业团队资助项目（2016ZT06G025） 中国科学院科研装备研制项目（YZ201512）

本校为其他机构

介绍了一种基于THGEM的X射线光斑寻迹探测器,用于X射线单光子计量技术研究和测量,探测器有效面积200 mm×200 mm,采用128路基于ASIC和FPGA的高速读出电子学,探测器分为中间高分辨区和外围低分辨区两部分,两部分共用一套读出电子学.实验在中国计量科学研究院利用X光机产生的束线,测试光斑位置、光斑精细分布以及探测器的位置分辨.实验结果表明,探测器实现了同时对光斑寻迹和光斑的精细测量,探测器中间高分辨区x方向的位置分辨率为0.63 mm(FWHM),y方向位置分辨率为0.62 mm(FWHM),探测器各项性能指标均达到了预期目标.

This paper introduces the detector of X-ray spot tracing based on the THGEM. It is used for X ray single photon measurement technology research and measurement with an effective area of 200 mm × 200 mm. The circuit board has 128 array of high speed readout electronics based on ASIC and FPGA. And it is divided into two parts: the middle area of high sensitive and the peripheral area of low sensitive. The two parts share a set of readout electronics. The experiment tests the position and the fine structure of the beam line produced by X ray mach...