220Rn及其子体测量在辐射防护中具有重要意义,特别是低水平活度220Rn的测量,仍是技术难点。 针对以上问题,本文完成了基于STM32的时间间隔分析220Rn测量低活度220Rn装置系统方案设计,介绍了时间间隔分析法测量220Rn原理,根据220Rn和216Po的衰变时间关系,将来源于220Rn的α脉冲事件从其它α脉冲事件中提取出来,使用时间间隔分析法对MATLAB仿真软件产生220Rn及其子体的核脉冲随机序列数据进行分析,结果表明该方法能够有效测量低活度的220Rn。 本文构建了实验验证装置,采用FD-125闪烁室作为探测器,硬件数字控制部分设计了采用STM32F103ZET6微处理器作为主控芯片,包括外设:触摸屏...