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(20-300)kV X射线参考辐射装置的建立

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成果类型:
期刊论文
作者:
葛双;吴金杰;郭彬;王培玮;杨扬;...
通讯作者:
Wu, J.-J.
作者机构:
[葛双] 南华大学核科学技术学院,衡阳421001
中国计量科学研究院,北京100029
中国计量科学研究院,北京,100029
南华大学核科学技术学院,衡阳,421001
[郭彬; 吴金杰; 王培玮; 杨扬] 中国计量科学研究院
通讯机构:
National Institute of Metrology, Beijing, China
语种:
中文
关键词:
参考辐射装置;参考辐射质;均匀野;半值层;谱分布
关键词(英文):
Half-value layer;Reference radiation devices;Reference radiation qualities;Spectrum distribution;Uniform radiation field
期刊:
核电子学与探测技术
ISSN:
0258-0934
年:
2016
卷:
36
期:
1
页码:
68-72
基金类别:
201210003:公益性行业科研专项 25-AKY1307:中国计量科学研究院基本科研业务费专项
机构署名:
本校为第一机构
院系归属:
核科学技术学院
摘要:
为了推进X射线空气比释动能基准量值传递工作的开展,建立了(20-300)kV X射线参考辐射装置。距离X光管焦点1 m的均匀野处,建立了CCRI会议推荐的两组低能X射线参考辐射质50kV(a)和50 kV(b),采用拟合方法测量得到的半值层、同质系数与推荐值相差2%以内。通过蒙卡模拟软件EGSnrc研究两组参考辐射质的能谱分布情况,并计算了其平均能量,分别为33.3和28.1 keV。
摘要(英文):
For promoting the work that the air-kerma primary standard value be transferred, the reference radiation device is established in the range of (20-300) kV X-rays. Two low-energy reference radiation qualities 50 kV (a) and 50 kV (b) recommend by CCRI are established on the uniform radiation field. The distance from the source to the reference plane is 1 m. Half-value layer and homogeneity coefficient are measured by the fitting method. The difference with the recommended values is within 2%. Their spectrum distribution can be got by Monte Carlo ...

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