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基于X荧光涂层厚度测量的Geant4模拟

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成果类型:
期刊论文
论文标题(英文):
The Simulation of Coating' s Thickness Measuring by Geant4 Based on X Fluorescence
作者:
谭桢干;黄明;屈国普;黄亮
通讯作者:
Qu, G.-P.
作者机构:
南华大学核科学技术学院,衡阳,421001
四川大学制造科学与工程学院,成都,610064
[黄亮] 四川大学
[黄明; 谭桢干; 屈国普] 南华大学
通讯机构:
The School of Nuclear Science And Technology, The University of South China, Hengyang, Hunan Prov., China
语种:
中文
关键词:
特征X射线;涂层测厚;探测效率;优化设计
关键词(英文):
Geant4
期刊:
核电子学与探测技术
ISSN:
0258-0934
年:
2015
卷:
35
期:
6
页码:
621-624
机构署名:
本校为第一且通讯机构
院系归属:
核科学技术学院
摘要:
Geant4以其快速,方便,灵活的特点在核技术研究中得到了广泛的应用。本文通过利用Geant4,对基于X荧光涂层厚度测量方法,主要对激发源的优化设计、探测器放置的位置对探测效率的影响、涂层厚度测量的范围等问题进行了研究,得到:不同基底金属的特征X射线强度随涂层厚度变化的关系,本套实验系统中X荧光的空间几何分布和最佳的探测器放置位置,不同能量及不同入射方向的源射线对X荧光激发效率的影响。为进一步优化测量系统提供了理论依据。
摘要(英文):
Geant4 is used widely in the research about nuclear technology since it is fast, flexible and convenient. By use of Geant4, aim at the method of coating's thickness measuring based on X-ray fluorescence, optimization design of excitation source, the position of the detector placed influence on detection efficiency, the range of coating thickness measuring etc problems are studied. Getting the relationship between characteristic X-ray's intensity of different base metal and thickness change, the X fluorescence space geometric distribution and op...

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