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基于 X 荧光涂层厚度测量的试验研究

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成果类型:
期刊论文
作者:
黄明;屈国普;赵越;黄亮
作者机构:
[黄明; 屈国普; 赵越] 南华大学核科学技术学院
[黄亮] 四川大学制造科学与工程学院
语种:
中文
关键词:
涂层测厚;X 荧光;反射法;工作曲线
关键词(英文):
coating’ s thickness measurement X-fluorescence reflection method working curve
期刊:
核电子学与探测技术
ISSN:
0258-0934
年:
2014
卷:
34
期:
7
页码:
866-868,873
机构署名:
本校为第一机构
院系归属:
核科学技术学院
摘要:
涂层厚度的控制至关重要,如果涂层厚度没有达到设计标准,对产品性能影响很大。利用实验室仪器搭建起一套涂层测厚试验平台,本试验中以铜、铁作为试验样品,用油漆作为涂层。利用射线穿过物质时的指数衰减规律 I = I_0 e~(-μx),用不同涂层厚度的标准样品进行标定以后,作出工作曲线;测量铜、铁两种基底上的涂层厚度,在涂层厚度介于0. 01 g / cm~2 - 0. 06 g / cm~2的范围内,相关系数分别为0. 992和0. 995,表明此测厚方法是可行的。
摘要(英文):
The control of coating’ s thickness is very important.If coating’ s thickness is not up to the standard, it will have a serious effect on the performance of the products.The test platform of coating’ s thickness meas-urement is built in the laboratory, Cu、Fe was used as the test sample, oil paint was used as coating in the ex-periment.The working curves are established after calibration using standard samples,taking advantage of the exponent attenuation law I=I0 e -μx , when ray is traversing matter;measuring coating’ s thickness on the b...

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