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NaI(Tl)晶体对面源全能峰效率刻度的点源模拟法

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成果类型:
期刊论文
作者:
屈国普;龚学余;金杰坤
作者机构:
[屈国普; 龚学余; 金杰坤] 中南工学院技术物理系
语种:
中文
关键词:
典源模拟法;面源;效率刻度
关键词(英文):
Point source simulation test Plate source Calibration of efficiency
期刊:
核电子学与探测技术
ISSN:
0258-0934
年:
1999
卷:
19
期:
4
页码:
311-313
机构署名:
本校为第一机构
院系归属:
数理学院
摘要:
介绍了用点源模拟法来刻度面源全能峰效率的方法.并将刻度结果与数值分析法的理论计算值进行了比较,两者在8%内一致.
摘要(英文):
This paper describes the calibration method of the peak efficiency of plate source by means of point source simulation test for NaI(Tl) detector. The comparison between the computed peak efficiencies and the results of calibration with point source simulation test showed that bo...

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