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CMOS APS摄像机的γ射线辐射损伤模式与损伤表征研究

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成果类型:
期刊论文
论文标题(英文):
Study on y-Ray Irradiation Damage Mode and Characterization of CMOS APS Camera
作者:
徐守龙;林奎成;韩永超;邹树梁;余修武;...
通讯作者:
Xu, Shoulong(xusl@usc.edu.cn);Han, Yongchao(hanyongchao@ciae.ac.cn);Zou, Shuliang(zousl2013@126.com)
作者机构:
[徐守龙; 邹树梁; 余修武] School of Resource Environment and Safety Engineering, University of South China, Hengyang
421001, China
[吴其反] Department of Engineering Physics, Tsinghua University, Beijing
100084, China
[林奎成] Instituted of Materials, China Academy of Engineering Physics, Mianyang
通讯机构:
[Xu, S.; Zou, S.] S
[Han, Y.] C
School of Resource Environment and Safety Engineering, China
CNNC New Energy Company LimitedChina
语种:
中文
关键词:
光学器件;有源像素传感器摄像机;γ射线;损伤模式;损伤表征;辐射寿命
关键词(英文):
Active pixel sensor camera;Damage characterization;Damage mode;Optical devices;Radiation life;Γ-ray
期刊:
光学学报
ISSN:
0253-2239
年:
2020
卷:
40
期:
15
页码:
1523002
基金类别:
11905102:国家自然科学基金 61601423:国家自然科学基金 18B268:湖南省教育厅优秀青年项目 190XQD065:国家科研启动基金
机构署名:
本校为第一且通讯机构
院系归属:
环境与安全工程学院
摘要:
为了研究以CMOS有源像素传感器为感光元件的摄像机系统的辐射损伤模式及损伤表征,利用在线辐射实验的方法,结合辐射干扰噪声抑制算法,研究了彩***图像信息随辐射总剂量的变化情况,并讨论了不同辐射总剂量照射下硬件的辐射寿命,以及γ射线辐射对数字图像信息的影响。研究结果表明:摄像机的γ射线辐射损伤模式主要表现为透光率下降,传感器的暗电流增大、失真和损坏,以及主板的瞬时损坏;感光元件的辐射总剂量效应主要导致本底噪声的增大,且噪声主要集中在图像的暗部;暗电流导致图像灰条纹中平均像素值的增量远不及因镜头透光率下降而造成平均像素值的减小量;摄像机自带的曝光补偿功能在检测到视...
摘要(英文):
In order to study the radiation damage mode and characterization of the camera system with CMOS active pixel sensor as the photosensitive element, this paper uses the method of on-line radiation experiment, combined with the radiation interference noise suppression algorithm, to study the change of color video image information with the total radiation dose, and discusses the radiation life of the hardware under the irradiation of different total radiation doses and the effect of γ-ray radiation on the digital image information. Results show t...

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