正电子湮没寿命测量中干扰信号对谱仪和测量结果的影响

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成果类型：

期刊论文

作者：

王垒;彭雄刚;张红强;于润升;张鹏;...

通讯作者：

Xiao, D.;Liu, F.

作者机构：

[伍海彪; 肖德涛] School of Nuclear Science and Technology, University of South China, Hengyang, 421001, China

[吴亚茹; 张鹏; 刘福雁] Institute of High Energy Physics, Chinese Academy of Sciences, Beijing, 100049, China

University of Chinese Academy of Sciences, Beijing, 100049, China

[曹兴忠; 于润升; 彭雄刚; 王宝义; 张红强] Institute of High Energy Physics, Chinese Academy of Sciences, Beijing, 100049, China, University of Chinese Academy of Sciences, Beijing, 100049, China

[王垒] School of Nuclear Science and Technology, University of South China, Hengyang, 421001, China, Institute of High Energy Physics, Chinese Academy of Sciences, Beijing, 100049, China

通讯机构：

[Xiao, D.] S

[Liu, F.] I

Institute of High Energy Physics, China

School of Nuclear Science and Technology, China

语种：

中文

关键词：

寿命谱;峰谷比;偶然符合;错误符合;活度比

关键词(英文)：

Activity ratio;Error coincidence;Lifetime spectrum;Peak-to-valley ratio;Random coincidence

期刊：

核技术

ISSN：

0253-3219

年：

2023

卷：

期：

页码：

53-59

DOI：

10.11889/j.0253-3219.2023.hjs.46.060402

基金类别：

国家重点研发计划(No.2019YF A0210002)、国家自然科学基金(No.1 1875055 ,No.1 1875165 ,No.12105305)资助第一作者：王垒，女，1994年出生，2016年毕业于烟台大学，现为硕士研究生，研究领域为正电子湮没谱学技术. 通信作者：肖德涛，E-mail：xiaodt@usc.edu.cn；刘福雁，E-mail：liufy@ihep.ac.cn 收稿日期：2023-03-06，修回日期：2023-04-13 Supported by National Key R&D Program of China (No.2019YF A0210002), National Natural Science Foundation of China (No.1 1875055 , No. 1 1875165 ,No.12105305) First author:W ANG Lei,female,born in 1994,graduated from Y antai University in 2016,master student,focusing on study of positron annihilation spectroscopy technology Corresponding author:XIAO Detao,E-mail:xiaodt@usc.edu.cn;LIU Fuyan,E-mail:liufy@ihep.ac.cn Received date: 2023-03-06, revised date: 2023-04-13

机构署名：

本校为第一机构

院系归属：

核科学技术学院

摘要：

正电子湮没信号的精准采集与关联符合技术是寿命谱灵敏表征材料微观缺陷的基础。测量环境中放射性射线对正电子湮没信号采集的影响,制约着寿命谱方法在复杂辐射背景中应用,特别是在核结构材料中子辐照损伤研究中,中子活化诱发的放射性核...展开更多正电子湮没信号的精准采集与关联符合技术是寿命谱灵敏表征材料微观缺陷的基础。测量环境中放射性射线对正电子湮没信号采集的影响,制约着寿命谱方法在复杂辐射背景中应用,特别是在核结构材料中子辐照损伤研究中,中子活化诱发的放射性核素形成的γ射线本底,将影响正电子寿命谱仪的测量结果。为探究γ本底对正电子湮没寿命测量的影响规律,本文基于60...

摘要(英文)：

[Background]The accurate acquisition and correlation coincidence of positron annihilation signal form the basis of the lifetime spectrum sensitive characterization of microscopic defects in materials.The complex radiation background interferes with the acquisition of po...MORE [Background]The accurate acquisition and correlation coincidence of positron annihilation signal form the basis of the lifetime spectrum sensitive characterization of microscopic defects in materials.The complex radiation background interferes with the acquisition of posi...

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